热电材料性能电导率的测定

　　测量半导体材料的电导率时，因明显的塞贝克效应及珀尔帖效应给测量带来了困难。塞贝克效应产生了因温差造成的寄生电势，成为测量误差的重要根源。为了消除寄生电势的影响，在完成一次测量后，将电流改变方向，再记下数据，然后取两次测量的平均值。若电流在一个方向流动时，克服电阻的电压与寄生电势相加，则在电流改变方向后，克服电阻的电压与寄生电势相减，将两次测量的电压平均后，寄生电势的影响抵消。

　　在低温冷库中由于珀尔帖效应，导体内通电时将产生温度梯度，该温度梯度产生了附加的寄生电势。但是因珀尔帖效应建立温度梯度需要一定的时间，通过迅速的反复改变电流方向，可以在实际上避免因珀尔帖效应产生的温度梯度，使珀尔帖效应的影响消除。

　　采用直流电位计测量电压，并采用周期性地政变电流方向的变流器。变流器不断改变电源的极性，每秒40次。待测的元件及标准电阻中的电压以同样的频率变换方向，使输出到电位计上的电压极性始终不变。